3月8日,日立高新全球发布AFM5500M 扫描探针显微镜(SPM)。
AFM5500M 扫描探针显微镜
新研发的扫描仪和低噪声三维传感器可以实现高的测量准确性。自动悬臂加载和激光准直功能进一步增强其易用性。AFM5500M不仅吸引了纳米尺度基础研究的人员,而且还解决了工业仪表领域的需求。
SPM利用探针扫描样品表面,同时执行形貌以及其他材料特性的纳米尺度的测量。鉴于电子设备、先进性能材料和精密组件开发、生产和质控等方面的发展,近年来对高分辨率SPM的需求显着提高。相比之下,由于扫描参数优化等技术的限制,传统SPM需要高度熟练的操作者,而AMF5500M仅需一次点击就可以进行悬臂的改变,并开始测量。
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